|
СФ-2000
|
|
|
|
|
|
|
1 847 027
1 847 027 AMD
|
|
|
|
|
- Спектральный диапазон, нм - 190—1100;
- погрешность установки длин волн:
v от 200 до 390 нм - ±0,4;
v от 390 до 1100 нм - ±0,8;
- наименьшая спектральная ширина щели, нм - 1,0;
- диапазон измерения:
v оптическая плотность, А - -0,3...3,0;
v коэффициэнт пропускания, %Т - 0,01...200;
- фотометрическая точность при измерении Т, % - ±0,1 при 10% 550 нм;
- фотометрическая точность при измерении А - ±0,005 при А=1 550 нм;
- фотометрическая воспроизводимость при измерении Т, % - 0,01 при 10% 550 нм;
- фотометрическая воспроизводимость при измерении А - 0,0005 при А=1,0 550 нм;
- число образцов - 10;
- смена образцов - автоматическая;
- термостатирование, °С - нет;
- оптическая схема - однолучевая, монохроматор — аберрационно -скорректированная
вогнутая нарезная решетка;
- источник излучения - дейтериевая и галогеновая лампы;
- сканирование во всем рабочем диапазоне длин волн;
- раздельные каналы УФ- и видимой области для исключения их взаимного влияния,
выделение спектрального интервала, фокусировка и детектирование оптимизированы отдельно для каждого канала;
- фиксированная оптическая схема для надежной работы;
- высота луча, см - 1;
- высокоскоростной двунаправленный интерфейс USB/COM;
- измерение темнового тока, эталонного образца и образцов (до 9 шт.) автоматическое,
по одной команде;
- режимы измерения: определение оптических плотностей, измерение спектров; расчет
концентрации по запрограммированному методу (градуировочный график); определение
скорости реакций (в т.ч. кинетика нескольких образцов одновременно);
- возможно применение держателя кювет КФК ;
- габариты, ШхГхВ, мм — 450х320х180;
- вес, кг — 10.
Аксессуары и опции: приставка зеркального и диффузного отражения для исследования
зеркального и диффузного отражения при различной геометрии освещения и отражения; держатель
твердых образцов; проточная кювета для автоматизированного дозирования пробы в кювету К10,
для работы с агрессивными жидкостями; дополнительные отъюстированные источники излучения;
кюветы различных типов, размеров, из кварцевого и оптического стекла.
|
|
ОКБ Спектр
Спектрофотометр 190-1100 нм, однолучевой, спектральная щель от 0,3 до 6 нм (0,3, 0,6, 1,0, 3,0 и 6,0), СФ-56
|
СФ-56
|
|
|
|
|
|
|
2 193 604
2 193 604 AMD
|
|
|
|
|
- Спектральный диапазон, нм - 190—1100;
- погрешность установки длин волн:
v от 200 до 390 нм - ±0,1;
v от 390 до 1100 нм - ±0,1;
- наименьшая спектральная ширина щели, нм - 0,3;
- диапазон измерения:
v оптическая плотность, А - -0,3...4,0;
v коэффициэнт пропускания, %Т - 0,01...200;
- фотометрическая точность при измерении Т, % - ±0,2;
- фотометрическая точность при измерении А - ±0,003 при А=1;
- фотометрическая воспроизводимость при измерении Т, % - 0,01;
- фотометрическая воспроизводимость при измерении А - 0,0005;
- число образцов - 6;
- смена образцов - автоматическая;
- термостатирование, °С - нет;
- оптическая схема - однолучевая, с двойным монохроматором;
- источник излучения - дейтериевая и галогеновая лампы;
- возможность отключения источников излучения для экономии, выбор ширины щели,
шага дискретизации, типа автоматического подбора экспозиции, работы при ручном или
автоматическом перемещении кювет;
- режимы измерения - автоматическое одно- и многократное измерение одного или нескольких
образцов в заданном диапазоне длин волн; сканирование спектров на определенных участках
диапазона; кинетические измерения; определение концентраций;
- управление с ПК, выбор параметров измерения и алгоритмов получения данных,
сохранение данных;
- автоматизированное кюветное отделение на 6 образцов;
- четыре варианта держателей образцов;
- интерфейс COM;
- габариты, ШхГхВ, мм — 430х480х200;
- вес, кг — 16.
Аксессуары и опции: приставка зеркального отражения ПЗО-9; приставка диффузного отражения ПДО-6; кюветы различных типов, размеров, из кварцевого и оптического стекла.
|
|
|