Спектрофотометр 190-1100 нм, однолучевой, спектральная щель 4 нм, ПЭ-5400УФ, Россия, Россия

• Измерение оптической плотности в УФ и видимой области;
• диапазон длин волн, нм — 190-1000;
• погрешность установки длины волны, нм — ±1;
• воспроизводимость установки длины волны, нм — <0,5;
• спектральная ширина щели, нм — 4;
• диапазон измерения:
• оптическая плотность, А — -0,3-3,0;
• коэффициент пропускания, % — 0-200;
• погрешность измерения Т, % — ±0,5 (315-1000 нм) / ±1,0 (190-315 нм);
• рассеянный свет при 340 нм, %Т - <0,3;
• оптическая схема — однолучевая;
• источник излучения — галогеновая лампа;
• стандартные измерения, кинетика; дополнительный режим количественного анализа, построение калибровочных кривых, вывод коэффициентов;
• автоматическая установка длины волны;
• автоматическая компенсация темнового тока при смене длин волн;
• держатель кювет — универсальный 4-позиционный, для кювет шириной до 24 мм, диной 5-100 мм;
• возможность установки 6- или 9-позиционного держателя для еврокювет (длиной 100 и 50 мм, соответственно);
• возможность дополнительного ПО для режима сканирования;
• память на 200 групп данных, 200 калибровочных кривых;
• возможность расположения кювет в шахматном порядке без ухудшения метрологических характеристик;
• возможность измерения оптической плотности в виалах и пробирках;
• USB-интерфейс;
• вывод и обработка данных на ПК;
• габариты, Ш х Г х В, мм — 395 х 465 х 235;
• вес, кг — 12,5.

Аксессуары и опции: ПО «SC5400» для ПЭ-5400ВИ/УФ кюветы стеклянные и кварцевые с оптическим путем от 5 до 100 мм, кюветодержатель на 6 позиций для кювет длиной до 100 мм, кюветодержатель на 9 позиций для кювет длиной до 50 мм, комплект для определения ХПК.